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粒度儀公司介紹9種測(cè)量?jī)x表

粒度儀公司將常用的測(cè)量?jī)x表進(jìn)行了測(cè)量研究結(jié)果歸類,下面就分別來(lái)簡(jiǎn)單的介紹一下.

1、電容式測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于粒狀材料和粉末狀材料，如煤、塑料單體、肥料、砂等材料表面的連續(xù)測(cè)量和位置測(cè)量，應(yīng)選用電容式測(cè)量?jī)x器。

(2)探測(cè)器的延伸電纜須予屏蔽或考慮抗電磁干擾措施。

2、聲波式測(cè)量?jī)x表

(1)音叉式料位計(jì)可用于無(wú)振動(dòng)或振動(dòng)小的筒倉(cāng)和漏斗中粒徑小于10 mm的顆粒材料的料位測(cè)量。

(2)對(duì)于粒徑小于5 mm的粉狀顆粒物料，應(yīng)采用聲阻式超聲波料位計(jì)進(jìn)行料位測(cè)量。

(3)反射式超聲液位計(jì)適用于微粉材料的連續(xù)和水平測(cè)量。反射式超聲波料位計(jì)不適用于測(cè)量多塵筒倉(cāng)和漏斗的料位，也不適用于測(cè)量表面不平整的料位。

3、電阻式（電接觸式）測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于電導(dǎo)率好或差的顆粒狀和粉狀物料，如煤、焦炭等，電阻測(cè)量?jī)x器可用于測(cè)量含水分的粒狀和粉狀物料，如煤、焦炭等。

(2)為了保證測(cè)量的可靠性和靈敏度，必須滿足電極對(duì)地電阻值的要求。

4、微波式測(cè)量?jī)x表

(1)微波測(cè)量?jī)x適用于高溫、高粘附性、腐蝕性和毒性的塊狀和粒狀材料的料位測(cè)量和連續(xù)測(cè)量。

(2)不適用于不均勻表面的料位測(cè)量。

5 核輻射式測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于高溫、高壓、高附著力、腐蝕性和毒性的散體、粒狀和粉狀材料，核輻射式測(cè)量?jī)x可用于高溫、高壓、高粘著性、高腐蝕性和高毒性的散體、粒狀和粉狀材料的液位測(cè)量和連續(xù)測(cè)量。

6、激光式測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜或機(jī)械障礙的容器，以及傳統(tǒng)方法難以安裝的容器，應(yīng)使用激光測(cè)量?jī)x器連續(xù)測(cè)量容器的料位,比如粒度儀公司耐克特的粒度儀產(chǎn)品。

(2)對(duì)于無(wú)反射的全透明材料，不應(yīng)使用激光測(cè)量?jī)x器。

7、阻旋式測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于壓力小、無(wú)波動(dòng)壓力的料倉(cāng)和料倉(cāng)，可選擇反旋轉(zhuǎn)測(cè)量?jī)x對(duì)物料密度在0.2以上的顆粒和粉狀物料表面進(jìn)行料位測(cè)量。

(2)轉(zhuǎn)子的尺寸應(yīng)根據(jù)材料的比密度來(lái)選擇。

(3)為了避免因材料撞擊轉(zhuǎn)子而造成儀器誤動(dòng)，應(yīng)在轉(zhuǎn)子上方設(shè)置保護(hù)板。

8、隔膜式測(cè)量?jī)x表

(1)隔膜式測(cè)量?jī)x可用于測(cè)量料倉(cāng)和料倉(cāng)中顆粒或粉狀物料的水平。

(2)由于膜片的作用易受粉末顆粒附著力和粉末顆粒流動(dòng)壓力的影響，不能應(yīng)用于精度較高的場(chǎng)合。

9、重錘式測(cè)量?jī)x表

(1)對(duì)于高度高水平大、變化范圍廣的大筒倉(cāng)、散裝倉(cāng)庫(kù)和附著力小的散裝、粒狀、粉狀物料，在開(kāi)、閉無(wú)壓力容器中，應(yīng)定期連續(xù)測(cè)量物料表面，應(yīng)選用重量?jī)x。

(2)重錘的形式應(yīng)根據(jù)物料粒度、干燥濕度等因素選擇。

(3)粒度儀公司提醒對(duì)粉塵擴(kuò)散嚴(yán)重的筒倉(cāng)和容器進(jìn)行料位測(cè)量時(shí)，應(yīng)使用帶有吹灰裝置的大錘測(cè)量?jī)x。