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由于粉體材料顆粒的形狀不可能都是均勻球形的，納米粒度儀有各種各樣的結構，因此，在大多數情況下粒度分析儀所測的粒徑是一種等效意義上的粒徑，和實際的顆粒大小分布會有一定的差異，因此只具有相對比較的意義。等效粒徑（D）和顆粒體積（V）的關系可以用表達式D=1.24V1/3表示。此外，各種不同粒度分析方法獲得的粒徑大小和分布數據也可能不能相互印證，不能進行絕對的橫向比較。 由于粉體材料的顆粒大小分布較廣，可以從納米級到毫米級，因此在描述材料粒度大小時，可以把顆粒按大小分為納米顆粒、超微顆粒、微粒、細粒、粗粒等種類。依據這些顆粒的種類可以采用相應的粒度分析方法和儀器。近年來，隨著納米科學和技術的迅速發展。

納米材料的顆粒分布以及顆粒大小已經成為納米粒度儀材料表征的重要指標之一，在普通的材料粒度分析中，其研究的顆粒大小一般在100nm~1ｕm尺寸范圍。面對納米材料研究，其zui關注的尺度范圍。按原理分較先進的三種典型方法是：高速離心沉降法、激光粒度分析法和電超聲粒度分析法。集中激光粒度分析法按其分析粒度范圍不同，又劃分為光衍射法和動態光散射法。衍射法主要針對微米、亞微米級顆粒；散射法則主要針對納米、亞微米級顆粒的粒度分析。電超聲粒度分析方法是zui新出現的粒度分析方法，主要針對高濃度體系的粒度分析。納米材料粒度分析的特點是分析方法多，主要針對高濃度體系的粒度分析。